Polytec zeigt mit Microview+ ein optisches 3D-Profilometer mit 5MP-Kamera. Als modulare Messstation bietet es Konfigurationsmöglichkeiten und Freiheitsgrade für die verlässliche, hochgenaue Prüfung selbst feiner Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Flächenhafte 3D-Messdaten sowie Farbdarstellungen erlauben aussagekräftige Visualisierungs- und Analyseformen sowie die professionelle Dokumentation von Defekten. Während Focus Finder und Focus Tracker Prüflinge im Fokus behalten, unterstützen voll-motorisierte Positioniereinheiten das Stitching und automatisierte Prüfprozesse. Weiter bietet die Messstation einen Weißlichtinterferometer mit nm-Auflösung und ermöglicht 100mm vertikalen Messbereich mit Continuous Scanning Technology.
