Messgeräte für die Generation Y

In wenigen Jahren werden mehr Ingenieure in Rente gehen, als neue ins Berufsleben einsteigen. Daher wird es immer wichtiger die Ressourcen dieser Leute immer effektiver einzusetzen. Die sogenannte Generation Y muss dabei an die Mess- und Automatisierungstechnik herangeführt werden. Allerdings klafft zwischen der Technik heutiger Messsysteme und der Handhabung moderner Geräte – wie Tablets, Smartphones oder der Cloud – eine große Lücke. Jede Generation hat nun einmal ihre eigene Vorstellung, wie moderne Technologie zu benutzen ist. Es ist die Aufgabe der Messtechnik-Hersteller, dieses neue technologische Umfeld in den Messgeräten auch abzubilden. Allerdings ist dies bei dem rasanten Tempo heutiger Entwicklungen nicht leicht. So hat sich z.B. der Formfaktor herkömmlicher Messgeräte in den letzten Jahren nicht verändert. Noch immer herrscht die Hersteller-Philosophie fest vorgegebenen hardwarezentrischen Stand-alone-Geräten vor. Ingenieure der Generation Y setzten aber voraus, dass zeitgemäße Technologie ein integraler Bestandteil heutiger Messgeräte ist, d.h. Touchscreens, mobile Geräte, Anbindung an die Cloud und Condition Monitoring integraler Bestandteil der Messtechnik von morgen wird. Konkrete Lösungen für diese Aufgabenstellungen zu bieten, ist es, was sich National Instruments (NI) zur Aufgabe gemacht hat. So wurde bereits vor einem Jahr mit myRIO ein System speziell für Studenten vorgestellt und im Sommer diesen Jahres Virtual Bench (s. SPS-MAGAZIN 8/14, S.148) präsentiert, ein Universalmessgerät, welches fünf klassische Messgeräte vereint. Die Bedienung der Geräte, deren Software auf einem iPad oder PC läuft, erfolgt ähnlich, wie es der Anwender von Apps auf seinem Smartphone oder Tablet her kennt. Weitere Lösungen für die Messtechnik(er) der Zukunft präsentierte NI im Rahmen der diesjährigen VIP 2014. Während am ersten Kongresstag zukünftige Trends und Herausforderungen der Energiebranche im Mittelpunkt standen, präsentierten am zweiten Tag Rahman Jamal (Technical and Marketing Director Europe, Asia, Americas bei NI) sowie Daniel Riedelbauch (Marketing Manager Central Europe, NI) die neuesten Produktentwicklungen und Technologien im Rahmen ihrer Keynote. Neben der neuen LabView Version wurde mit Insight CM Enterprise eine Software-Lösung zur Online-Zustandsüberwachung von Maschinen und Anlagen vorgestellt. Diese erlaubt Alarmmanagement und detailliertes Daten-Monitoring von verteilten Systemen wie CompactRIO und CompactDAQ. Hardwareseitig präsentierte man zudem den neuen Controller cRIO-9033, mit integriertem Intel-Atom-Prozessor und Kintex-7-FPGA Technologie von Xilinx sowie das System-on-Module (SOM) für den Embedded-Bereich.

Softwaredesignte Messtechnik

Vor zwei Jahren stellte NI im Rahmen der VIP das erste softwaredesignte Messgerät auf Basis von anwenderprogrammierbaren FPGAs vor. Für die PXI-Plattform wurden dieses Jahr vier neue Messgerätetypen für automatisierte Testanwendungen gezeigt, darunter das rekonfigurierbare Oszilloskop PXIe-5171R mit acht Kanälen/14bit, 250MS/s und 250MHz, sowie der neue Vektorsignalanalysator PXIe-5668R für den RF-Bereich mit 26,5GHz. Zudem wurden erstmals ein Zwischenfrequenz-Digitizer mit 12bit, 2GS/s und 2GHz sowie ein Hochgeschwindigkeits-Messgerät für digitale I/O mit 12,5GB/s, 8TX-/8 RX-Leitungen gezeigt. Dank der neuen Geräteklasse sind Anwender in der Lage, ihr Messgerät für jeden erforderlichen Zweck umzuwandeln ohne zusätzliche Kosten für benutzerdefinierte Anpassungen durch den Messgerätehersteller. Im Rahmen der Veranstaltung präsentierten rund 40 Firmen in einer Fachausstellung ihre Lösungen und Produkte. Zudem erhielten die Kongressteilnehmer auch in diesem Jahr wieder die Möglichkeit, kostenfrei an der Zertifizierung zum ´Certified LabView Associate Developer´ (CLAD) teilzunehmen. Am dritten Tag fand der kostenfreie Dozenten- und Ausbildertag statt. Der Termin der VIP 2015 steht auch fest: Vom 21. bis 23. Oktober 2015 findet der Anwenderkongress erneut im Veranstaltungsforum Fürstenfeldbruck bei München statt. (peb)