Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS in Chemnitz hat das European Test and Reliability Center (ETRC) eröffnet. Das neu angesiedelte Kompetenzzentrum bündelt strategische Kompetenzen für Tests und Zuverlässigkeitsbewertungen von Halbleiterbauelementen. Es versteht sich als strategische Plattform für die Entwicklung, Erprobung und Validierung Test- und Zuverlässigkeitsverfahren entlang der gesamten Halbleiter-Wertschöpfungskette vom Chipdesign, über Frontend bis Packaging und wird u.a. von der EU gefördert.
Mit KI-gestützter Fehleranalytik, thermisch-elektrischer Belastungssimulation und einer modernen Testdateninfrastruktur kann das ETRC Unternehmen und Forschungseinrichtungen dabei unterstützen, die Serienfähigkeit neuer Halbleiterprodukte schneller, sicherer und nachhaltiger zu erreichen. Gerade in sicherheitskritischen Anwendungen, etwa in der Automobilindustrie, in der Medizintechnik oder im IoT, ist die Fähigkeit, Bauelemente frühzeitig auf Fehlertoleranz und Systemverhalten zu testen, ein strategischer Wettbewerbsvorteil.
