Dependable Embedded Systems

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Das Open-Access-Buch führt den Leser in viele Techniken zur Verbesserung der Zuverlässigkeit in eingebetteten Systemen ein, die insbesondere in den letzten fünf Jahren entstanden sind. Es stellt die wichtigsten Zuverlässigkeitsprobleme aus heutiger Sicht vor und rekapituliert grob die bisherigen Fortschritte in der Community. Im Gegensatz zu anderen Büchern, die sich nur auf eine Abstraktionsebene wie die Schaltkreis- oder Systemebene konzentrieren, liegt der Schwerpunkt dieses Buches auf der Behandlung der verschiedenen Zuverlässigkeitsherausforderungen über verschiedene Ebenen hinweg, angefangen von der physikalischen Ebene bis hin zur Systemebene. Das Werk zielt darauf ab, zu zeigen, wie neue Hardware/Software-Co-Design-Lösungen vorgeschlagen werden können, um Zuverlässigkeitsbeeinträchtigungen wie Transistoralterung, Prozessorvariationen, Temperatureffekte, weiche Fehler usw. wirksam zu mindern.

Springer Fachmedien • 1. Aufl. 2021 • 608S. • ISBN 978-3-030-52016-8

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